We describe a subfringe integration interferometry for which the phase information is evaluated only from one interferogram.
叙述了次
积分干涉计量的原理，仅用一幅光载频干涉图获取全部位相
息。
We describe a subfringe integration interferometry for which the phase information is evaluated only from one interferogram.
叙述了次积分干涉计量的原理，仅用一幅光载频干涉图获取全部位相息。
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